학술논문
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Conference
In: Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium . (Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium, 2000, :157-164)
Conference
Sunter, Steve; Osseiran, Adam; Cron, Adam; Jacobson, Neil; Bonnett, Dave; Eklow, Bill; Barnhart, Carl; Bennetts, Ben
Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe - Volume 2. :21184
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[AR] Barnhart, Carl
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