학술논문
Series production testing and commissioning of the Belle II SVD readout system
Document Type
Article
Author
Thalmeier, R.; Aihara, H.; Aziz, T.; Bacher, S.; Bahinipati, S.; Barberio, E.; Baroncelli, Ti.; Baroncelli, To.; Basith, A.K.; Batignani, G.; Bauer, A.; Behera, P.K.; Bertacchi, V.; Bettarini, S.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Bosi, F.; Bosisio, L.; Bozek, A.; Buchsteiner, F.; Caria, G.; Casarosa, G.; Ceccanti, M.; Červenkov, D.; Czank, T.; Dash, N.; De Nuccio, M.; Doležal, Z.; Forti, F.; Friedl, M.; Gobbo, B.; Grimaldo, J.A.M.; Hara, K.; Higuchi, T.; Irmler, C.; Ishikawa, A.; Jeon, H.B.; Joo, C.; Kaleta, M.; Kandra, J.; Kang, K.H.; Kodyš, P.; Kohriki, T.; Komarov, I.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kvasnička, P.; La Licata, C.; Lalwani, K.; Lanceri, L.; Lee, J.Y.; Lee, S.C.; Li, Y.; Libby, J.; Lueck, T.; Mammini, P.; Martini, A.; Mayekar, S.N.; Mohanty, G.B.; Morii, T.; Nakamura, K.R.; Natkaniec, Z.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Park, H.; Prasanth, K.; Profeti, A.; Rao, K.K.; Rashevskaya, I.; Resmi, P.K.; Rizzo, G.; Rozanska, M.; Sahoo, D.; Sasaki, J.; Sato, N.; Schultschik, S.; Schwanda, C.; Stypula, J.; Suzuki, J.; Tanaka, S.; Tanigawa, H.; Taylor, G.N.; Tsuboyama, T.; Urquijo, P.; Vitale, L.; Wan, K.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Watson, I.J.; Webb, J.; Wiechczynski, J.; Williams, S.; Yin, H.; Zani, L.
Source
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 1 April 2020 958
Subject
Language
ISSN
0168-9002