학술논문 – 부산대학교 도서관

학술논문

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Modeling of FinFET SRAM array reliability degradation due to electromigration

Document Type

Article

Author

Zhang, R.; Yang, K.X.; Liu, T.Z.; Milor, L.

Source

In Microelectronics Reliability September 2019 100-101

Subject

Language

ISSN

0026-2714

Online Access

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