학술논문
Improving sensitivity to low-mass dark matter in LUX using a novel electrode background mitigation technique
Document Type
Article
Author
Akerib, D.S.; Bernstein, A.; Biesiadzinski, T.P.; Boulton, E.M.; Brás, P.; Byram, D.; Carmona-Benitez, M.C.; de Viveiros, L.; Druszkiewicz, E.; Fan, A.; Fiorucci, S.; Ghag, C.; Gilchriese, M.G.D.; Hall, C.R.; Hertel, S.A.; Horn, M.; Ignarra, C.M.; Jahangir, O.; Ji, W.; Kamdin, K.; Kazkaz, K.; Khaitan, D.; Kravitz, S.; Lenardo, B.G.; Lesko, K.T.; Lindote, A.; Lopes, M.I.; Manalaysay, A.; McKinsey, D.N.; Mei, D.-M.; Neves, F.; Oliver-Mallory, K.C.; Riffard, Q.; Shaw, S.; Shutt, T.A.; Silva, C.; Solovov, V.N.; Sorensen, P.; Taylor, D.J.; Tennyson, B.P.; Tiedt, D.R.; Tvrznikova, L.; Utku, U.; Whitis, T.J.; Witherell, M.S.; Wolfs, F.L.H.; Woodward, D.; Xu, J.; Zhang, C.; Haselschwardt, S.J.; Korolkova, E.V.; Kudryavtsev, V.A.; Leason, E.; Mannino, R.L.; Murphy, A.ST.J.; Naylor, A.; Nehrkorn, C.; Nelson, H.N.; Nilima, A.; Rischbieter, G.R.C.; Rossiter, P.; Solmaz, M.; Szydagis, M.; Terman, P.A.; To, W.H.; Webb, R.C.; White, J.T.; Alsum, S.; Palladino, K.J.; Araújo, H.M.; Marangou, N.; Sumner, T.J.; Taylor, R.; Vacheret, A.; Bai, X.; Balajthy, J.; Cutter, J.E.; Morad, J.A.; Bang, J.; Chan, C.; Gaitskell, R.J.; Huang, D.Q.; Liao, J.; Rhyne, C.; Swanson, N.; Taylor, W.C.; Vaitkus, A.; Xiang, X.; Baxter, A.; Boxer, B.; Burdin, S.; Gwilliam, C.; Bernard, E.P.; Hogan, D.P.; Jacobsen, R.G.; Lin, J.; Velan, V.
Source
In: Physical Review D . (Physical Review D, 1 July 2021, 104(1))
Subject
Language
English
ISSN
24700029
24700010
24700010