학술논문
Silicon vertex detector of the Belle II experiment
Document Type
Article
Author
Mondal, S.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Casarosa, G.; Forti, F.; Massaccesi, L.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Tenchini, F.; Corona, L.; Adamczyk, K.; Bacher, S.; Bozek, A.; Kaleta, M.; Natkaniec, Z.; Wiechczynski, J.; Aggarwal, L.; Aihara, H.; Onuki, Y.; Tanigawa, H.; Uematsu, Y.; Wang, Z.; Aziz, T.; Halder, S.; Hazra, S.; Mohanty, G.B.; Rao, K.K.; Tiwary, R.; Bahinipati, S.; Baudot, J.; Dujany, G.; Finck, C.; Martel, L.; Ripp-Baudot, I.; Behera, P.K.; Libby, J.; Bilka, T.; Kandra, J.; Kodyš, P.; Buchsteiner, F.; Friedl, M.; Irmler, C.; Kaliyar, A.B.; Schwanda, C.; Thalmeier, R.; Yin, H.; Das, S.B.; Lalwani, K.; Gabrielli, A.; Vitale, L.; Gobbo, B.; Jin, Y.; Werbycka, O.; Hara, K.; Ishikawa, A.; Kohriki, T.; Nakamura, K.R.; Sato, Y.; Suzuki, J.; Tanaka, S.; Tsuboyama, T.; Higuchi, T.; Kang, K.H.; Otani, F.; Shimasaki, T.; Kumar, R.; Lee, S.C.; Park, H.; Lautenbach, K.; Leboucher, R.; Polat, L.; Serrano, J.; Zani, L.; Webb, J.
Source
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 February 2024, 19(2))
Subject
Language
English
ISSN
17480221