소장자료
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| 007 | ta▲ | ||
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| 056 | ▼a 569.3▲ | ||
| 088 | ▼a S5NG008-F▲ | ||
| 090 | ▼a 569.3▼b 한17ㅂ▲ | ||
| 110 | ▼a 한국.▼b 과학기술처▲ | ||
| 245 | 1 | 0 | ▼a 반도체 집적회로 전기적 특성검사 및 신뢰성검사 = ▼x Electrical characteristics test and reliability test of the semiconductor integrated circuits / ▼d 과학기술처 편.▲ |
| 260 | ▼a [과천] : ▼b 과학기술처,▼c 1986.▲ | ||
| 300 | ▼a xvii, 230 p. : ▼b 삽도 ; ▼c 26 cm.▲ | ||
| 500 | ▼a 최종연구보고서▲ | ||
| 500 | ▼a 주관연구기관 : 한국전자통신연구소▲ | ||
| 500 | ▼a 총괄책임자 : 강영일▲ | ||
| 700 | 1 | ▼a 강영일▲ | |
| 710 | ▼a 한국전자통신연구소▲ | ||
| 950 | ▼a gyh▲ |
반도체 집적회로 전기적 특성검사 및 신뢰성검사 = Electrical characteristics test and reliability test of the semiconductor integrated circuits
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